4.5 - 6एनएम उच्च आवर्धन स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप सतह स्थलाकृति इको एसईएम
स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (सेम) धातुओं, चीनी मिट्टी की चीज़ें, अर्धचालक, खनिज, जीव विज्ञान, पॉलिमर, कंपोजिट और नैनो-स्केल एक-आयामी, दो-आयामी और तीन-आयामी सामग्री (द्वितीयक इलेक्ट्रॉन छवि) की सतह स्थलाकृति के अवलोकन के लिए उपयुक्त है। बैकस्कैटर इलेक्ट्रॉन छवि)। इसका उपयोग माइक्रोरेगियन के बिंदु, रेखा और सतह के घटकों का विश्लेषण करने के लिए किया जा सकता है। इसका व्यापक रूप से पेट्रोलियम, भूविज्ञान, खनिज क्षेत्र, इलेक्ट्रॉनिक्स, अर्धचालक क्षेत्र, चिकित्सा, जीव विज्ञान क्षेत्र, रासायनिक उद्योग, बहुलक सामग्री क्षेत्र में उपयोग किया जाता है। सार्वजनिक सुरक्षा, कृषि, वानिकी और अन्य क्षेत्रों की आपराधिक जांच।
| A63.7062 इको टंगस्टन फिलामेंट SEM | ||
| संकल्प | 4.5एनएम @ 30 केवी (एसई);6एनएम @ 30 केवी (बीएसई) | |
| बढ़ाई | नकारात्मक आवर्धन: 15x ~ 250000x;स्क्रीन आवर्धन: 30x ~ 500000x | |
| इलेक्ट्रॉन गन | टंगस्टन गरम कैथोड-पूर्व केंद्रित टंगस्टन फिलामेंट कार्टिडेज | |
| त्वरित वोल्टेज | 0~30KV | |
| लेंस सिस्टम | तीन-स्तरीय विद्युत चुम्बकीय लेंस (पतला लेंस) | |
| उद्देश्य एपर्चर | मोलिब्डेनम एपर्चर एडजस्टेबल आउटसाइड वैक्यूम सिस्टम | |
| नमूना चरण | फाइव एक्सिस स्टेज | |
| यात्रा रेंज | एक्स (ऑटो) | 0 ~ 50 मिमी |
| वाई (ऑटो) | 0 ~ 50 मिमी | |
| जेड (मैनुअल) | 0 ~ 25 मिमी | |
| आर (मैनुअल) | 360 º | |
| टी (मैनुअल) | -5º~90º | |
| अधिकतम नमूना व्यास | 150मिमी | |
| डिटेक्टर | उच्च वैक्यूम माध्यमिक इलेक्ट्रॉन डिटेक्टर (डिटेक्टर सुरक्षा के साथ) | |
| परिवर्तन | स्टेज अपग्रेड; ईबीएल; एसटीएम; एएफएम; हीटिंग स्टेज; क्रायो स्टेज; तन्य चरण; माइक्रो-नैनो मैनिपुलेटर; एसईएम + कोटिंग मशीन; एसईएम + लेजर | |
| सामान | सीसीडी, एलएबी6, एक्स-रे डिटेक्टर (ईडीएस), ईबीएसडी, सीएल, डब्लूडीएस, कोटिंग मशीन | |
| वैक्यूम प्रणाली | टर्बो आण्विक पंप, रोटेशन पंप | |
| इलेक्ट्रॉन बीम करंट | 10pAt~0.1μA | |
| पीसी | स्वनिर्धारित डेल वर्क स्टेशन | |
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