विमान स्कैनिंग परमाणु बल माइक्रोस्कोप

• गैन्ट्री स्कैनिंग हेड डिज़ाइन, मार्बल बेस, वैक्यूम सोखना चरण, नमूना आकार और वजन मूल रूप से असीमित हैं
• A62.4510 + क्लोज्ड-लूप थ्री-एक्सिस इंडिपेंडेंट प्रेशर शिफ्ट स्कैनर, जो विस्तृत रेंज में उच्च परिशुद्धता के साथ स्कैन कर सकता है
• जांच और नमूनों की सुरक्षा के लिए मोटर-नियंत्रित पीजोइलेक्ट्रिक सिरेमिक की स्वचालित पहचान के साथ बुद्धिमान सुई खिला विधि
• स्वचालित ऑप्टिकल पोजिशनिंग, फोकस, रीयल-टाइम अवलोकन और पोजिशनिंग जांच नमूना स्कैनिंग क्षेत्र को समायोजित करने की कोई आवश्यकता नहीं है
• बंद धातु ढाल, वायवीय सदमे-अवशोषित तालिका, मजबूत विरोधी हस्तक्षेप क्षमता से लैस है

चीन में पहला वाणिज्यिक परमाणु बल माइक्रोस्कोप जांच और नमूने की संयुक्त मोबाइल स्कैनिंग का एहसास करने के लिए;

बड़े पैमाने पर उच्च-सटीक स्कैनिंग प्राप्त करने के लिए तीन-अक्ष स्वतंत्र क्लोज-लूप पीजोइलेक्ट्रिक शिफ्ट स्कैनिंग टेबल का उपयोग करने वाला चीन में पहला;

◆ तीन-अक्ष स्वतंत्र स्कैनिंग, XYZ एक दूसरे को प्रभावित नहीं करता है, त्रि-आयामी सामग्री और स्थलाकृति का पता लगाने के लिए बहुत उपयुक्त है;

नमूना चलती तालिका और उठाने वाली तालिका का विद्युत नियंत्रण, जिसे तेजी से स्वचालित पहचान का एहसास करने के लिए बहु-बिंदु स्थिति के साथ प्रोग्राम किया जा सकता है;

◆ गैन्ट्री स्कैनिंग हेड डिज़ाइन, मार्बल बेस, वैक्यूम सोखना और चुंबकीय सोखना चरण;

मोटर स्वचालित रूप से जांच और नमूने की सुरक्षा के लिए पीजोइलेक्ट्रिक सिरेमिक स्वचालित पहचान की बुद्धिमान सुई खिला विधि को नियंत्रित करता है;

◆ उच्च आवर्धन सहायक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप स्थिति, वास्तविक समय अवलोकन और जांच और नमूना स्कैनिंग क्षेत्र की स्थिति;

क्लोज्ड-लूप पीजोइलेक्ट्रिक स्कैनिंग चरण में नॉनलाइनियर सुधार की आवश्यकता नहीं होती है, और नैनोमीटर लक्षण वर्णन और माप सटीकता 99.5% से बेहतर है।

मैं

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• 	ए62.4510	ए62.4511
  कार्य का तरीका	संपर्क मोड टैपिंग मोड [वैकल्पिक] घर्षण मोड चरण मोड चुंबकीय मोड इलेक्ट्रोस्टैटिक मोड	संपर्क मोड टैपिंग मोड [वैकल्पिक] घर्षण मोड चरण मोड चुंबकीय मोड इलेक्ट्रोस्टैटिक मोड
  वर्तमान स्पेक्ट्रम वक्र	आरएमएस-जेड वक्र FZ बल वक्र	आरएमएस-जेड वक्र FZ बल वक्र
  XY स्कैन मोड	जांच संचालित स्कैनिंग, पीजो ट्यूब स्कैनर	नमूना संचालित स्कैनिंग, बंद लूप पीजोइलेक्ट्रिक शिफ्ट स्कैनिंग स्टेज
  XY स्कैन रेंज	70×70um	बंद लूप 100 × 100um
  XY स्कैन रिज़ॉल्यूशन	0.2 एनएम	बंद लूप 0.5nm
  जेड स्कैन मोड		जांच संचालित स्कैनिंग
  जेड स्कैन रेंज	5um	5um
  जेड स्कैन संकल्प	0.05 एनएम	0.05 एनएम
  स्कैन स्पीड	0.6 हर्ट्ज ~ 30 हर्ट्ज	0.6 हर्ट्ज ~ 30 हर्ट्ज
  स्कैन कोण	0~360°	0~360°
  नमूना वजन	≤15किग्रा	0.5 किग्रा
  स्टेज का आकार	दीया.100 मिमी [वैकल्पिक] दीया.200mm दीया.300 मिमी	दीया.100 मिमी [वैकल्पिक] दीया.200mm दीया.300 मिमी
  स्टेज XY मूविंग	100x100 मिमी, संकल्प 1um [वैकल्पिक] 200x200 मिमी 300x300 मिमी	100x100 मिमी, संकल्प 1um [वैकल्पिक] 200x200 मिमी 300x300 मिमी
  स्टेज जेड मूविंग	15 मिमी, संकल्प 10 एनएम [वैकल्पिक] 20 मिमी 25 मिमी	15 मिमी, संकल्प 10 एनएम [वैकल्पिक] 20 मिमी 25 मिमी
  शॉक-अवशोषित डिजाइन	स्प्रिंग सस्पेंशन [वैकल्पिक] सक्रिय शॉक अवशोषक	स्प्रिंग सस्पेंशन [वैकल्पिक] सक्रिय शॉक अवशोषक
  ऑप्टिकल सिस्टम	उद्देश्य 5x 5.0M डिजिटल कैमरा [वैकल्पिक] उद्देश्य 10x उद्देश्य 20x	उद्देश्य 5x 5.0M डिजिटल कैमरा [वैकल्पिक] उद्देश्य 10x उद्देश्य 20x
  उत्पादन	यूएसबी 2.0 / 3.0	यूएसबी 2.0 / 3.0
  सॉफ़्टवेयर	विन XP/7/8/10	विन XP/7/8/10
  मुख्य भाग	गैन्ट्री स्कैन हेड, मार्बल बेस	गैन्ट्री स्कैन हेड, मार्बल बेस

• माइक्रोस्कोप	ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप	इलेक्ट्रान सूक्ष्मदर्शी	स्कैनिंग जांच माइक्रोस्कोप
  अधिकतम संकल्प (उम)	0.18	0.00011	0.00008
  टिप्पणी	तेल विसर्जन 1500x	इमेजिंग डायमंड कार्बन परमाणु	उच्च-क्रम वाले ग्रेफाइटिक कार्बन परमाणुओं की इमेजिंग

• जांच-नमूना बातचीत	माप संकेत	जानकारी
  ताकत	विद्युत बल	आकार
  सुरंग धारा	मौजूदा	आकार, चालकता
  चुंबकीय बल	अवस्था	चुंबकीय संरचना
  विद्युत बल	अवस्था	प्रभार वितरण

• 	संकल्प	काम की परिस्थिति	कार्य तापमान	नमूने को नुकसान	निरीक्षण गहराई
  एसपीएम	परमाणु स्तर 0.1nm	सामान्य, तरल, वैक्यूम	कमरा या कम तापमान	कोई भी नहीं	1~2 परमाणु स्तर
  मंदिर	प्वाइंट 0.3 ~ 0.5 एनएम जाली 0.1 ~ 0.2 एनएम	उच्च वैक्यूम	कमरे का तापमान	छोटा	आमतौर पर <100nm
  सेम	6-10nm	उच्च वैक्यूम	कमरे का तापमान	छोटा	10 मिमी @ 10x 1um @ 10000x
  एफआईएम	परमाणु स्तर 0.1nm	सुपर हाई वैक्यूम	30~80K	डैमेज	परमाणु मोटाई

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