OPTO-EDU A63.7235 उच्च थ्रूपुट फील्ड उत्सर्जन स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप 12KV 600000x
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प्रमुखता देना
क्षेत्र उत्सर्जन स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप 12 केवी
,उच्च थ्रूपुट स्कैनिंग माइक्रोस्कोप 600000x
,उच्च आवर्धन के साथ OPTO-EDU SEM
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इलेक्ट्रॉन गनSchottky प्रकार थर्मल फ़ील्ड उत्सर्जन इलेक्ट्रॉन स्रोत बीम वर्तमान स्थिरता <1%/दिन
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उद्देश्य लेंस प्रणालीSorril ™ इलेक्ट्रोमैग्नेटिक कंपाउंड लेंस सैंपल स्टेज मोड मोड
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मानक कार्य दूरी1.5 मिमी
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अधिकतम दृश्य क्षेत्र100UM (मानक कार्य दूरी) 1 मिमी (अधिकतम कार्य दूरी)
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इलेक्ट्रॉन डिटेक्टरइन-कॉलम एसई डिटेक्टर इन-लेंस बीएसई डिटेक्टर
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WD ऊंचाई का पता लगानाफ़ोकस ट्रैकिंग ™ स्वचालित फोकस ट्रैकिंग सिस्टम
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उत्पत्ति के प्लेसचीन
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ब्रांड नामCNOEC, OPTO-EDU
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प्रमाणनCE, Rohs
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मॉडल संख्याA63.7230
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दस्तावेज़
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न्यूनतम आदेश मात्रा1 पीसी
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मूल्यFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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पैकेजिंग विवरणनिर्यात परिवहन के लिए कार्टन पैकिंग
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प्रसव के समय5 ~ 20 दिन
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भुगतान शर्तेंटी/टी, वेस्ट यूनियन, पेपैल
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आपूर्ति की क्षमता5000 पीसी / महीना
OPTO-EDU A63.7235 उच्च थ्रूपुट फील्ड उत्सर्जन स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप 12KV 600000x
OPTO-EDU A63.7235 उच्च-थ्रूपुट क्षेत्र उत्सर्जन स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप 12KV 600000X
प्रमुख विशेषताऐं
- रिज़ॉल्यूशन 1.5nm@1kv, स्वचालित अधिग्रहण सिलाई से बड़ी छवि सेमी 2 आकार तक
- एसई और बीएसई प्रत्येक 100 मीटर पिक्सेल/एस के दोहरे चैनल सिंक्रोनस इमेजिंग
- व्यापक इमेजिंग गति> पारंपरिक इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप की 10 बार
- बड़े पैमाने पर एसईएम छवियों से डेटा विश्लेषण रिपोर्ट की तेजी से पीढ़ी
- मिलीमीटर से नैनोमीटर तक क्रॉस-स्केल सामग्री लक्षण वर्णन
A63.7235 उच्च-थ्रूपुट क्षेत्र उत्सर्जन स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप क्रॉस-स्केल बड़े पैमाने पर नमूना SEM लक्षण वर्णन और विश्लेषण के लिए डिज़ाइन किया गया है, व्यापक रूप से अनुसंधान और उद्योग में उपयोग किया जाता है। इसकी स्वचालित अल्ट्रा-हाई-स्पीड नैनो इमेजिंग तकनीक एक असाधारण इमेजिंग अनुभव प्रदान करती है।
कोर क्षमताएं:
- रिज़ॉल्यूशन 1.5nm@1kv, स्वचालित अधिग्रहण सिलिचिंग बड़ी छवि सेमी 2 आकार तक
- एसई और बीएसई प्रत्येक 100 मीटर पिक्सेल/एस के दोहरे चैनल सिंक्रोनस इमेजिंग
- व्यापक इमेजिंग गति> पारंपरिक इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप की 10 बार
- बड़े पैमाने पर एसईएम छवियों से डेटा विश्लेषण रिपोर्ट की तेजी से पीढ़ी
- मिलीमीटर से नैनोमीटर तक क्रॉस-स्केल सामग्री लक्षण वर्णन
A63.7235 उच्च-थ्रूपुट क्षेत्र उत्सर्जन स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप, जो स्वतंत्र रूप से ऑप्टो-ईडीयू द्वारा विकसित किया गया है, इमेजिंग प्रौद्योगिकी, गति प्लेटफॉर्म, सर्किट नियंत्रण और बुद्धिमान एल्गोरिदम में व्यवस्थित अभिनव डिजाइन के माध्यम से उच्च-थ्रूपुट इमेजिंग को प्राप्त करता है, इमेजिंग गति के साथ पारंपरिक इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप से अधिक समय तक इमेजिंग गति। यह प्रत्यक्ष इलेक्ट्रॉन डिटेक्टरों को अपनाता है, गति, सटीकता और नमूना क्षति में पारंपरिक एसईएम प्रौद्योगिकी की सीमाओं पर काबू पाता है।
तकनीकी निर्देश
| इलेक्ट्रॉन ऑप्टिकल लेंस | |
|---|---|
| इलेक्ट्रॉन बंदूक | Schottky प्रकार थर्मल फ़ील्ड उत्सर्जन इलेक्ट्रॉन स्रोत बीम वर्तमान स्थिरता <1%/दिन |
| उद्देश्य लेंस प्रणाली | Sorril ™ इलेक्ट्रोमैग्नेटिक कंपाउंड लेंस सैंपल स्टेज मोड मोड |
| संकल्प | 1.5 एनएम @ 1kv 1.3nm @ 3kv |
| विसर्जन विद्युत चुम्बकीय लेंस (*①) | |
| त्वरण वोल्टेज | 0.1-12 केवी लगातार समायोज्य (*②) |
| बढ़ाई | 500x ~ 600,000x (SEM छवि) 1x-600x (ऑप्टिकल नेविगेशन) |
| बीम करंट | 50pa ~ 30na (*③) |
| मानक कार्यक्षेत्र | 1.5 मिमी |
| अधिकतम दृश्य क्षेत्र | 100UM (मानक कार्य दूरी) 1 मिमी (अधिकतम कार्य दूरी) |
| इलेक्ट्रॉन बीम ब्लैंकर | इलेक्ट्रोस्टैटिक ब्लैकर |
उन्नत विशेषताएँ
▶ अल्ट्रा-फास्ट इमेजिंग
- स्वतंत्र रूप से विकसित हार्डवेयर और सॉफ्टवेयर डिजाइन के माध्यम से द्वितीयक इलेक्ट्रॉनों और बैकस्केटेड इलेक्ट्रॉनों के दोहरे चैनल सिंक्रोनस इमेजिंग प्राप्त: वीडियो-स्तरीय उच्च-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग के माध्यम से
- उच्च-परिभाषा वीडियो-स्तरीय फ्रेम दर नमूना गतिशील परिवर्तनों के वास्तविक समय के अवलोकन की अनुमति देता है
▶ उच्च इमेजिंग गुणवत्ता
- अद्वितीय विसर्जन विद्युत चुम्बकीय यौगिक लेंस प्रणाली प्रभावी रूप से ऑप्टिकल विपथन को कम करती है
- इलेक्ट्रोस्टैटिक स्कैनिंग डिफ्लेक्शन सिस्टम इमेज एज डिस्टॉर्शन को कम करता है
- इन-लेंस एसई और बीएसई सेमीकंडक्टर डायरेक्ट इलेक्ट्रॉन डिटेक्टर दोहरे चैनल को एक साथ उच्च गति इमेजिंग में सक्षम करते हैं
- सक्रिय मुआवजा प्रणाली पर्यावरणीय हस्तक्षेप को समाप्त करती है
▶ क्रॉस-स्केल बड़े पैमाने पर इमेजिंग
- अल्ट्रा-हाई-स्पीड स्कैनिंग इमेजिंग क्षमता पूरी तरह से स्वचालित फोकसिंग ट्रैकिंग सिस्टम के साथ
- एआई इमेज प्रोसेसिंग एल्गोरिदम उच्च-रिज़ॉल्यूशन पूरी तरह से स्वचालित निर्बाध मैट्रिक्स स्कैनिंग को सक्षम करते हैं
- बड़े आकार के नैनोमीटर-स्तरीय रिज़ॉल्यूशन पैनोरमिक इमेजिंग प्राप्त करने के लिए स्वचालित रूप से सिलाई
▶ बुद्धिमान विश्लेषण
- बिग डेटा इंटेलिजेंट एनालिसिस, डेटा एनालिसिस रिपोर्ट्स की रैपिड जेनरेशन
- बुद्धिमान छवि प्रसंस्करण, अनुकूलित छवि माप, सांख्यिकी और विश्लेषण
▶ सरल ऑपरेशन
- पूरी तरह से स्वचालित नमूना लोडिंग और नेविगेशन, एक-क्लिक नमूना प्रतिस्थापन
- बड़े क्षेत्र ऑप्टिकल इमेजिंग नेविगेशन मूल रूप से SEM इमेजिंग के साथ जुड़ता है
- 24/7 पूरी तरह से स्वचालित मानव रहित संचालन क्षमता
अनुप्रयोग उदाहरण
लक्ष्य क्षेत्र के नमूनों पर पूरी तरह से स्वचालित स्कैनिंग करने के लिए सरणी स्कैन का उपयोग करते हुए, इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी को स्कैन करने के तहत माउस मस्तिष्क, हृदय, यकृत और गुर्दे में कोशिकाओं के माइक्रोस्ट्रक्चर का निरीक्षण करें।
नमूना एक सतत स्लाइसिंग विधि का उपयोग करके तैयार किया जाता है, सैकड़ों स्लाइस तक इकट्ठा होता है, उन्हें एक नमूना सर्कल पर रखा जाता है, और उन्हें एक ही बार में SEM में लोड किया जाता है।
पैथोलॉजिकल एनालिसिस: व्यापक रूप से पूरे स्लाइस पर सभी विस्तृत जानकारी एकत्र करें, और किसी भी क्षेत्र में गुर्दे के ऊतकों पर सबसेल्युलर ऑर्गेनेल अल्ट्रास्ट्रक्चर का स्पष्ट रूप से निरीक्षण करने के लिए ज़ूम करें।
नोट
* टिप्पणी:
①: फेरोमैग्नेटिक सामग्री के अवलोकन के लिए वैकल्पिक गैर-इमिशन इलेक्ट्रोमैग्नेटिक लेंस
②: वैकल्पिक 0 ~ 30kv इलेक्ट्रॉन गन
③: वैकल्पिक 100na
④: वैकल्पिक लेजर इंटरफेरोमीटर
①: फेरोमैग्नेटिक सामग्री के अवलोकन के लिए वैकल्पिक गैर-इमिशन इलेक्ट्रोमैग्नेटिक लेंस
②: वैकल्पिक 0 ~ 30kv इलेक्ट्रॉन गन
③: वैकल्पिक 100na
④: वैकल्पिक लेजर इंटरफेरोमीटर
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